YX－2H8型X射线晶体定向仪样品台

YA样品台  YA model Sample Table  

主要用于硅和蓝宝石等单晶的大型晶体柱面及片的检测,增加了承重轨道,可测重1-30公斤,直径2-8英寸棒。同时加有气泵,可测2-8英寸片状样品。

It is mostly used for testing the big crystal pillar and slice being composed with single crystal of Silicon and sapphire, whose weight is from 1 kg to 30kgs, and diameter from 2 inches to 8 inches. At the some time, adding the air pump to test the slice whose diameter from 2 inches to 8inches. 

YB样品台   

YB model Sample Table  

主要用于硅及蓝宝石等单晶的圆柱形晶体的端面检测,增加了承重轨道。样品台采用V型槽设计,V型槽的宽度可自动调整,便于不同规格大型圆柱形晶体在样品台上360°旋转。人性化的设计,使设备更合理,可测重1-30公斤、直径2-8英寸、长350mm棒材端面,同时加有气泵,可测2-8英寸片状样品。

 It is mainly used for the cylindrical crystal of silicon and sapphire single crystal face detection, increasing the load-bearing track. The  sample stage V-groove design, and can automatically adjust the width of the V-shaped groove. To facilitate the different specifications of a large cylindrical crystal radial 360°sample stage rotation. User-friendly design, and equipment is more reasonable, measurable, weighing 1-30 kg, 2-8 inches in diameter, 350mm rods long face, adding pump can be measured 2-8 inches of sheet samples. 

YD样品台    YD model Sample Table  

主要用于硅及蓝宝石等单晶片的外圆参考面的检测,吸气盘上接收X射线的位置采用开放式设计,克服了吸气盘遮挡X射线和定位不准的问题,满足不同规格晶片参考边的检测。样品台的吸气泵可把2-8英寸的晶片吸住,使检测更加准确。

It is mainly used for the testing single chip of silicon and sapphire cylindrical reference surface, the suction plate to receive the location of the X-ray is the open design, to overcome the problem of the X-ray and positioning of the suction disk inorder to test the diffenert parameters erystal sample. The sample stage of the suction pump suck, 2-8 inch chip to make the detection more accurate.

Ye样品台     

YE model Sample Table  

主要用于硅和蓝宝石等晶片的多点测量,晶片可在样品台上手动旋转,如0°、90°、180°、270°等,可满足客户对晶片的特殊测量需求。

It is mostly used for testing the silicon and sapphire with more testing spots, whose testing sample stand can be rotated by operation, such as 0°90°、180°or  270°,in order to meeting the clients' special requirements.