YX－2H8型X射线晶体定向仪样品台YA样品台YAmodelSampleTable主要用于硅和蓝宝石等单晶的大型晶体柱面及片的检测,增加了承重轨道,可测重1-30公斤,直径2-8英寸棒。同时加有气泵...

YX-300型X射线双晶高精度定向仪特点此种机型为双晶衍射型高精度定向仪,操作简便,强度较低,可用于更高精度水晶晶片、压电晶体、光学晶体以及各种单晶晶体材料的检测。YX-300型:精度±1...

YX-2A/2B型普通/双晶高精度定向仪特点该仪器是在YX-2型X射线晶体定向仪基础上增加了一个高精度测试端,实现了在一台设备上可检测不同衍射强度晶片的作用,提高了利用率,性价比高,特别适应科研所、...

YXL-2型X射线水晶粘料晶体定向仪特点该仪器采用单侧工作台和双侧工作台两种,单侧工作台为水晶晶棒粘料机,该粘料机与切割机配套,用于AT切型、晶棒以大R面定位,采用千分尺微调,层数升降依靠与晶棒对应...

YXG-2型X射线单晶滚磨定向仪特点用于大直径硅单晶及蓝宝石参考面的定向测量,也可以用于其它种类的单晶定向测量,需和磨床配合。因该机测量的角度是固定的,所以保证了滚磨后晶向的准确性。Features...

蓝宝石四角度X射线定向仪特点该机是针对大尺寸蓝宝石晶锭专门设计的设备,采用了进口同步导轨,可在此设备上准确的对蓝宝石A,C,R,M四个晶向定向,真正实现了一机多用的效果,是一款性价比极高的晶体检测设...

ALYX-700型X射线晶锭定向仪特点用于蓝宝石晶锭定向测量,也可用于其它种类的单晶定向测量。同时解决了大尺寸晶棒无法在普通定向仪上定向的问题。该仪器现已广泛应用于蓝宝石C向测定,因为测量的角度是固...

ALYX-500型X射线自动晶体定向仪特点采用计算机控制,可对蓝宝石及其它晶体晶片自动测量,确定晶体峰值、峰位、晶面偏差、表面缺陷等。通过电脑屏幕以表格和曲线的形式显示在计算机上,并可通过连接打印机...

ALYX-800型X射线蓝宝石粘料晶体定向仪特点用于蓝宝石晶棒粘接的定向测量,也可以用于其它种类的单晶定向测量。因为测量的角度是固定的,所以保证了晶棒粘接的准确性。FeaturesThemodeli...

ALYX-600A型全封闭式蓝宝石粘棒X射线定向仪ALYX-600AMODELCLOSEDSHIELDX-RAYCRYSTALORIENTATIONINSTRUMENT产品特点该仪器为全封闭式双工作...

ALW-XYDZ700型晶棒XY轴X射线定向粘料仪ALW-XYDZ700MODELSTICKINGINGOTX-RAYORIENTATIONINSTRUMENTBYX&YAXIS产品...

ALW-XYDZ700A型全封闭晶棒XY轴X射线定向粘料仪ALW-XYDZ700AMODELCLOSEDSHIELDSTICKINGINGOTX-RAYINSTRUMENTBYX&Y...

ALW-QZXD800型半自动寻峰X射线定向仪ALW-QZXD800MODELSEMI-AUTOMATICALFINDINGPEAKX-RAYORIENTATIONINSTRUMENT产品特点该仪器...

ALL-CKMD400型晶棒参考面X射线定向仪ALL-CKMD400MODELX-RAYCRYSTALORIENTATIONINSTRUMENTBYTHEREFERENCEPLANE产品特点⑴测量晶...

HB-2型锤击式布氏硬度计HB-2型锤击式布氏硬度计是以一定直径的钢球在施以瞬间的冲击载荷后，使钢球陷于被测试标准硬度试块或被测试件中，从而获得压痕，通过对压痕的测量，获取相应的数据,在通过查表即可...

HV-50型维氏硬度计HV-50型维氏硬度计采用精密机械技术和光电技术的新型维氏硬度计。该机采用微机控制，通过软键能调节测量光源的强弱，并能试验力保持时间，以LEG显示。该机采用独特的测量转换和测微...

HV-1000AT型显微硬度计（自动转塔、自动变荷）HV-1000AT型显微硬度计是光机电一体化的高新技术产品，采用计算机软件编程，光学测量系统。该仪器采用LCD大屏幕显示，自动切换压头和物镜（自动...

HV-1000型显微硬度计HV-1000型显微硬度计是采用精密机械技术和光电技术的新型显微维氏和努氏硬度测试仪器。该机外观新颖，采用微机控制，通过软健能调节测量光源强弱，并能预置试验力保持时间，以L...

HVS-10型小负荷数显维氏硬度计HVS-10型数显小负荷维氏硬度计是光机电一体化的高新技术产品，具有良好的可靠性，可操作性，是小负荷维氏硬度计的升级换代产品。该机采用计算机软件编程，高倍率光学测量...

HV-30型维氏硬度计HV-30型维氏硬度计采用自动加卸荷试验力机构，试验力保持时间可0～30秒任意选择，通过软件线形调节改变光源强弱，操作简便迅速，测量时采用独特的测量转换和测量微目镜一次测量读数...